簡要描述：BOS-T180顯微顆粒圖像分析儀激光是國內(nèi)蕞心一代靜態(tài)顆粒圖像分析設(shè)備，它采用蕞心的圖像采集系統(tǒng)與分析軟件，將計算機(jī)圖像學(xué)與顆粒粒度及粒形分析理論玩美結(jié)合，在獲得清晰的顆粒圖像的同時，將顆粒的粒度、球型度、長徑比、龐大率、表面率等相關(guān)顆粒大小和形狀的表征參數(shù)以特征值和分布的形式呈現(xiàn)出來，使用戶可以詳細(xì)的了解顆粒。

產(chǎn)品型號：BOS-T180
廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家
更新時間：2025-01-22
訪問量：1044

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粉末顆粒分析儀器

激光粒度儀活性白土堆積密度計陶粒砂體積密度測量儀普通磨料堆積密度測定儀膨脹珍珠巖堆積密度計流動角測定儀其他粉末測試儀振實密度計粉末綜合特性測試儀安息角測定儀激光粒度分析儀休止角測定儀霍爾流速計自然堆積密度計

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詳細(xì)介紹

品牌	其他品牌	測量時間	未秒
分辨率	未微米	測量范圍	1-6000μm微米
重現(xiàn)性	未	分散方式	干法分散
價格區(qū)間	面議	儀器種類	顆粒圖像分析儀
產(chǎn)地類別	國產(chǎn)	應(yīng)用領(lǐng)域	食品,化工,地礦,冶金
實際觀測范圍	1-6000μm

一、顯微顆粒圖像分析儀激光 產(chǎn)品簡介

BOS-T180是國內(nèi)蕞心一代靜態(tài)顆粒圖像分析設(shè)備，它采用蕞心的圖像采集系統(tǒng)與分析軟件，將計算機(jī)圖像學(xué)與顆粒粒度及粒形分析理論玩美結(jié)合，在獲得清晰的顆粒圖像的同時，將顆粒的粒度、球型度、長徑比、龐大率、表面率等相關(guān)顆粒大小和形狀的表征參數(shù)以特征值和分布的形式呈現(xiàn)出來，使用戶可以詳細(xì)的了解顆粒。此外，該款儀器還賦予了自動化、智能化能時代性的標(biāo)志、使其操作更簡便、分析更智能、結(jié)果更穩(wěn)定，是顆粒粒度測試及粒形分析的手選搭檔和得力助手。
二、顯微顆粒圖像分析儀激光 性能特點
直觀反映顆粒形貌將顆粒的表面形貌直接反映到計算機(jī)屏幕，用戶可以直觀且荃面了解顆粒的表面及形狀屬性；
玩美拼接多幅圖像將選取不同視場拍攝的多幅顆粒圖像拼接成一幅，使參與分析的顆粒數(shù)量更多，測試結(jié)果更具代表性；
自動分割粘連顆粒采用更良好的顆粒識別算法，對各種形狀的粘連顆粒都能自動分割，顯著提高粘連顆粒分割準(zhǔn)確率，減少人為參與，有效縮短圖像處理時間；
自適應(yīng)二值化功能采用一種自適應(yīng)二值化功能，使其進(jìn)行圖像二值化處理時不受拍攝光線的影響，避免了因光線不均勻等因素而導(dǎo)致顆粒信息丟失的情況，為后續(xù)處理的精準(zhǔn)度奠定基礎(chǔ)；

自動處理顆粒圖像顆粒圖像分析軟件含有自動處理工具集，集成了二值化、肖除邊界不完整顆粒、肖除雜點、填充空洞、平滑邊緣、分割粘連顆粒、計算顆粒參數(shù)等功能的自動操作，一鍵即可完成顆粒圖像處理到分析結(jié)果的生成等全部過程，操作簡便且結(jié)果可靠；
自由切換粒徑單位標(biāo)尺選取支持多種長度單位、可在納米、微米和毫米之間自由切換，便于用戶對通過電鏡等其他方式獲取的顆粒圖片實現(xiàn)進(jìn)一步處理；
快速處理特殊形狀顆粒對于球形顆粒，采用讀特的處理算法，對原始圖片無需進(jìn)行任何處理而直接分析顆粒粒徑信息，即使顆粒顆粒之間相互粘連或重疊也不會影響分析結(jié)果，提高球形顆粒的分析效率。

三、適用范圍:
BOS-T180靜態(tài)顆粒圖像儀適用于水泥、陶瓷、藥品、涂料、樹脂、染料、顏料、填料、化工產(chǎn)品、催化劑、煤粉、泥砂、粉塵、面粉、食品、添加劑、農(nóng)藥、榨藥、石墨、感光材料、燃料、金屬與非金屬粉末、碳酸鈣、高嶺土及其他粉體行業(yè)。
四、技術(shù)參數(shù)

規(guī)格型號		BOS-T180
執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)		ISO13322-1: 2004; GB/T21649.1-2008
顯微系統(tǒng)	物鏡	4X、10X、40X、60X、100X（油）長距消色差（平場）物鏡組
	目鏡	1X、10X、16X 大視野攝像目鏡
	載物臺	手動三維機(jī)械式載物臺，尺寸：185mm×140mm，移動范圍：50mm×75mm，粗微同軸調(diào)焦，微動格值：2μm,帶鎖緊和限位裝置
	光源	底部透射光源，6V 20W鹵素?zé)?亮度可調(diào)。可選頂部金相落射式光源（帶起偏振器）
	總放大倍數(shù)	4倍——1600倍
攝像系統(tǒng)	蕞高分辨率	2048×1536
	像素尺寸	3.2μm×3.2μm
	成像元件	1/1.8英寸 progress scan CMOS
	幀率	6fps@2048×1536 / 10fps@1600×1200 / 15fps@1280×1024 / 30fps@640×480
	蕞高清晰度	900線
	信噪比	小于42dB
	敏感度	1.0V@550nm/lux/S
	輸出方式	USB2.0
	實際觀測范圍	1-6000μm
軟件功能	靜態(tài)采集	將樣品形貌拍攝為高清晰JPG圖片
	圖片處理	使用多種畫圖工具對圖片進(jìn)行比較簡單的處理
	圖像拼接	將多幅圖片進(jìn)行無縫拼接,在顆粒測試中能夠獲得更多的顆粒數(shù)量以提高測試的代表性。同時也可單張分析保存后再進(jìn)行拼接，進(jìn)一步提高了結(jié)果的準(zhǔn)確性。
	顆粒的自動處理工具集	自動肖除顆粒粘連、自動肖除雜點、自動肖除邊界不完整顆粒、自動*顆粒的空心區(qū)域、自動平滑顆粒邊緣等12項自動處理工具。
	比例尺標(biāo)定	通過幗家標(biāo)準(zhǔn)測微尺標(biāo)定后，每次測試只須選擇與物鏡相對應(yīng)的比例尺數(shù)值即可直接得到顆粒的實際大小數(shù)值。
	單個顆粒數(shù)據(jù)	可在圖片上直接對單個顆粒進(jìn)行截面積、體積、長徑比等10多項參數(shù)的分析。
	任務(wù)管理機(jī)制	嚴(yán)格的任務(wù)管理機(jī)制，使用戶能夠?qū)⑺袦y試數(shù)據(jù)井井有條的管理起來。
	報告輸出	將測試結(jié)果輸出為報告，并可以自由修改報告樣式。
	整體分布特征參數(shù)	D10、D50（中位徑）、D90、D100等顆粒分布的特征參數(shù)
報告參數(shù)	整體頻率分布累計分布	顆粒按數(shù)量、體積、面積等分布的頻率分布與累計分布的數(shù)據(jù)表、曲線圖、柱狀圖等。
	統(tǒng)計平均徑	Xnl、Xns、Xnv、Xls、Xlv、Xsv等常用的統(tǒng)計平均徑
	形狀參數(shù)	長徑比、龐大率、球型度、表面率、比表面積、外接矩形參數(shù)等表征顆粒形狀的10多項常用數(shù)據(jù)
	個數(shù)統(tǒng)計	直接得到所觀測的顆粒數(shù)量
	樣品縮略圖	可以將樣品彩色或黑白（可選擇）縮略圖顯示到報告中
	表頭輸入	可以將樣品名稱、測試單位、分散介質(zhì)等多項信息輸入到報告表頭中

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